Microscopes électroniques à balayage
Voici les 9 résultats
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Microscopes électroniques à balayage
Crossbeam
Bénéficiez d’une productivité accrue avec une station de travail Open 3D Nano
Accélérez vos séquences de tomographie : utilisez un courant FIB jusqu’à 100 nA avec un excellent profil de détection pour combler le vide entre le micropatterning et le nanopatterning.
Le système Crossbeam allie les performances de l’imagerie et de l’analyse de la colonne électronique GEMINI avec la capacité FIB pour le traitement des matériaux et la préparation des échantillons à l’échelle nanoscopique.SKU: n/a -
Microscopes électroniques à balayage
EVO MA
La série ZEISS EVO combine la microscopie électronique haute définition et un flux de travail automatisé.
Découvrez des améliorations substantielles de la productivité par le biais d’un flux de travail en 4 étapes. Simplifiez vos tâches d’imagerie de routine et bénéficiez de fonctions automatisées puissantes qui accélère le temps de prise d’image et simplifie la formation des utilisateurs, en particulier dans un environnement multi-utilisateur.
SKU: n/a -
Microscopes électroniques à balayage
GeminiSEM
Colonne Gemini. Basse Tension. Pression Variable.
La famille GeminiSEM est synonyme d’imagerie sans effort: obtenez des images avec des résolutions sub-nanométriques et une efficacité de détection, même en mode pression variable. ZEISS GeminiSEM 500 combine la technologie éprouvée Gemini avec un nouveau design optique. Obtenez de meilleures résolutions, plus particulièrement à basses tension. Avec une détection de signal en colonne 20 fois plus intense, vous pourrez toujours obtenir des images nettes rapidement et avec un minimum de dommages sur votre échantillon.
SKU: n/a -
Microscopes électroniques à balayage
MERLIN MA
De l’imagerie à votre laboratoire complet : la puissance d’analyse à l’échelle subnanométrique
MERLIN doté de la colonne GEMINI II combine en un seul et même système une analyse ultra-rapide, l’imagerie à haute résolution en utilisant des modes de détection avancés et une souplesse de configuration permettant de faire face aux futures évolutions.
Grâce à l’optique GEMINI II pré-alignée, les paramètres d’imagerie tels que la tension ou le courant de sonde peuvent être ajustés en continu sur l’ensemble de la gamme afin de s’adapter parfaitement à votre application et à votre échantillon sans qu’aucun réalignement ne soit nécessaire.
SKU: n/a -
Microscopes électroniques à balayage
SIGMA
Votre MEB-FEG pour l’imagerie haute qualité et la microscopie analytique avancée
Détection modulaire. Workflow en 4 étapes. Analyse avancée.Combinez la technologie à effet de champ sur votre MEB et l’analyse avancée. Profitez de la colonne Gemini. Choisissez parmi un grand nombre de détecteurs optionnels: vous pouvez imager des particules, des surfaces et des nanostructures. Gagnez un temps précieux avec le workflow en 4 étapes du Sigma: Standardisez vos routines d’imagerie et de micro-analyse et augmentez votre productivité.
SKU: n/a -
Microscopes à rayons X, Microscopes électroniques à balayage
ZEISS Xradia 510 Versa
Polyvalence même à de grandes distances de travail – de quelques mm à plusieurs pouces de la source
Atteignez de nouveaux niveaux de découverte avec les microscopes à rayons X (XRM) 3D ZEISS Xradia 510 Versa, la première solution in-situ / 4D du marché. Notre capacité Raad (Résolution à distance) exclusive brise la barrière de la résolution au micron pour des échantillons de quelques mm à plusieurs cm.
SKU: n/a
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Microscopes électroniques à balayage
Crossbeam
Bénéficiez d’une productivité accrue avec une station de travail Open 3D Nano
Accélérez vos séquences de tomographie : utilisez un courant FIB jusqu’à 100 nA avec un excellent profil de détection pour combler le vide entre le micropatterning et le nanopatterning.
Le système Crossbeam allie les performances de l’imagerie et de l’analyse de la colonne électronique GEMINI avec la capacité FIB pour le traitement des matériaux et la préparation des échantillons à l’échelle nanoscopique. -
Microscopes électroniques à balayage
EVO MA
La série ZEISS EVO combine la microscopie électronique haute définition et un flux de travail automatisé.
Découvrez des améliorations substantielles de la productivité par le biais d’un flux de travail en 4 étapes. Simplifiez vos tâches d’imagerie de routine et bénéficiez de fonctions automatisées puissantes qui accélère le temps de prise d’image et simplifie la formation des utilisateurs, en particulier dans un environnement multi-utilisateur.
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Microscopes électroniques à balayage
GeminiSEM
Colonne Gemini. Basse Tension. Pression Variable.
La famille GeminiSEM est synonyme d’imagerie sans effort: obtenez des images avec des résolutions sub-nanométriques et une efficacité de détection, même en mode pression variable. ZEISS GeminiSEM 500 combine la technologie éprouvée Gemini avec un nouveau design optique. Obtenez de meilleures résolutions, plus particulièrement à basses tension. Avec une détection de signal en colonne 20 fois plus intense, vous pourrez toujours obtenir des images nettes rapidement et avec un minimum de dommages sur votre échantillon.
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Microscopes électroniques à balayage
MERLIN MA
De l’imagerie à votre laboratoire complet : la puissance d’analyse à l’échelle subnanométrique
MERLIN doté de la colonne GEMINI II combine en un seul et même système une analyse ultra-rapide, l’imagerie à haute résolution en utilisant des modes de détection avancés et une souplesse de configuration permettant de faire face aux futures évolutions.
Grâce à l’optique GEMINI II pré-alignée, les paramètres d’imagerie tels que la tension ou le courant de sonde peuvent être ajustés en continu sur l’ensemble de la gamme afin de s’adapter parfaitement à votre application et à votre échantillon sans qu’aucun réalignement ne soit nécessaire.
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Microscopes électroniques à balayage
SIGMA
Votre MEB-FEG pour l’imagerie haute qualité et la microscopie analytique avancée
Détection modulaire. Workflow en 4 étapes. Analyse avancée.Combinez la technologie à effet de champ sur votre MEB et l’analyse avancée. Profitez de la colonne Gemini. Choisissez parmi un grand nombre de détecteurs optionnels: vous pouvez imager des particules, des surfaces et des nanostructures. Gagnez un temps précieux avec le workflow en 4 étapes du Sigma: Standardisez vos routines d’imagerie et de micro-analyse et augmentez votre productivité.
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Microscopes à rayons X, Microscopes électroniques à balayage
ZEISS Xradia 510 Versa
Polyvalence même à de grandes distances de travail – de quelques mm à plusieurs pouces de la source
Atteignez de nouveaux niveaux de découverte avec les microscopes à rayons X (XRM) 3D ZEISS Xradia 510 Versa, la première solution in-situ / 4D du marché. Notre capacité Raad (Résolution à distance) exclusive brise la barrière de la résolution au micron pour des échantillons de quelques mm à plusieurs cm.
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Microscopes électroniques à balayage
Crossbeam
Bénéficiez d’une productivité accrue avec une station de travail Open 3D Nano
Accélérez vos séquences de tomographie : utilisez un courant FIB jusqu’à 100 nA avec un excellent profil de détection pour combler le vide entre le micropatterning et le nanopatterning.
Le système Crossbeam allie les performances de l’imagerie et de l’analyse de la colonne électronique GEMINI avec la capacité FIB pour le traitement des matériaux et la préparation des échantillons à l’échelle nanoscopique. -
Microscopes électroniques à balayage
EVO MA
La série ZEISS EVO combine la microscopie électronique haute définition et un flux de travail automatisé.
Découvrez des améliorations substantielles de la productivité par le biais d’un flux de travail en 4 étapes. Simplifiez vos tâches d’imagerie de routine et bénéficiez de fonctions automatisées puissantes qui accélère le temps de prise d’image et simplifie la formation des utilisateurs, en particulier dans un environnement multi-utilisateur.
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Microscopes électroniques à balayage
GeminiSEM
Colonne Gemini. Basse Tension. Pression Variable.
La famille GeminiSEM est synonyme d’imagerie sans effort: obtenez des images avec des résolutions sub-nanométriques et une efficacité de détection, même en mode pression variable. ZEISS GeminiSEM 500 combine la technologie éprouvée Gemini avec un nouveau design optique. Obtenez de meilleures résolutions, plus particulièrement à basses tension. Avec une détection de signal en colonne 20 fois plus intense, vous pourrez toujours obtenir des images nettes rapidement et avec un minimum de dommages sur votre échantillon.
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Microscopes électroniques à balayage
MERLIN MA
De l’imagerie à votre laboratoire complet : la puissance d’analyse à l’échelle subnanométrique
MERLIN doté de la colonne GEMINI II combine en un seul et même système une analyse ultra-rapide, l’imagerie à haute résolution en utilisant des modes de détection avancés et une souplesse de configuration permettant de faire face aux futures évolutions.
Grâce à l’optique GEMINI II pré-alignée, les paramètres d’imagerie tels que la tension ou le courant de sonde peuvent être ajustés en continu sur l’ensemble de la gamme afin de s’adapter parfaitement à votre application et à votre échantillon sans qu’aucun réalignement ne soit nécessaire.
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Microscopes électroniques à balayage
SIGMA
Votre MEB-FEG pour l’imagerie haute qualité et la microscopie analytique avancée
Détection modulaire. Workflow en 4 étapes. Analyse avancée.Combinez la technologie à effet de champ sur votre MEB et l’analyse avancée. Profitez de la colonne Gemini. Choisissez parmi un grand nombre de détecteurs optionnels: vous pouvez imager des particules, des surfaces et des nanostructures. Gagnez un temps précieux avec le workflow en 4 étapes du Sigma: Standardisez vos routines d’imagerie et de micro-analyse et augmentez votre productivité.
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Microscopes à rayons X, Microscopes électroniques à balayage
ZEISS Xradia 510 Versa
Polyvalence même à de grandes distances de travail – de quelques mm à plusieurs pouces de la source
Atteignez de nouveaux niveaux de découverte avec les microscopes à rayons X (XRM) 3D ZEISS Xradia 510 Versa, la première solution in-situ / 4D du marché. Notre capacité Raad (Résolution à distance) exclusive brise la barrière de la résolution au micron pour des échantillons de quelques mm à plusieurs cm.